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Microscopio a Forza Atomica

La Microscopia a Forza Atomica è una tecnica di microscopia che permette di visualizzare campioni con una risoluzione inferiore alla frazione di nanometro. Le applicazioni di questa tecnica sono sempre più ampie, ed aumentano di pari passo alle innovazioni tecnologiche apportate nel settore.

Gli AFM della Angstrom Advanced sono all'avanguardia per qualità, tecnologia e prezzo. Il primo AFM della Angstrom è stato realizzato nel 1986 come risposta all'imminente sviluppo dei Miscoscopi a Scansione Elettronica. Un AF ha notevoli vantaggi rispetto ad altre tecniche di microscopia, per esempio può essere utilizzato sia su campioni solidi che liquidi, in spazi ristretti come quello di un laboratorio e può operare a temperatura ambiente. Sebbene abbia di per sè una notevole risoluzione, il miglioramento di questa può essere ottenuto utilizzando un tavolo anti vibrante. Il sistema può essere semplicemente connesso ad un semplice computer da laboratorio per acquisire ed interpretare i dati usando il software proprietario disponibile con ogni acquisto.

 Brochure Generale

Tipica Immagine 3D topografica ottenuta con un AFM

I modelli disponibili sono di seguito elencati:

AA2000 Atomic Force Microscope (AFM) Combined Atomic Force Microscope (AFM) and Lateral Force Microscope (LFM)
AA3000 Scanning Probe Microscope(SPM) Combined Scanning Force Microscope (SPM), Atomic Force microscope (AFM) and Lateral ForceMicroscope (LFM)
AA5000 Multi-function Scanning Probe Microscope(SPM) Systems Full range of STM, AFM, LFM, Conductive AFM, MFM, EFM, Environmental Control SPM and Nano-Processing
OS-AA Opening Multi-function Scanning Probe Microscope(SPM) Full range of STM, AFM, LFM, MFM, EFM Full openness for further developments

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